Sytnikov V.E., Repnikov V.V., Lobanov E.A., Vysotsky V.S.(vysotsky@ieee.org), Karapetyan G.H.
Ключевые слова: HTS, long conductors, quench current, thermal runaway, transport currents, Bi2223, tapes, experimental results, numerical analysis
Nast R., Schlachter S.I., Frank A., Ringsdorf B., Goldacker W.(wilfried.goldacker@itp.fzk.de), Kotzyba G.
Bourgault D., Giovannelli F., Noudem J., Brouri D., Monot-Laffez I.(laffez@univ-tours.fr)
Ключевые слова: HTS, REBCO, REBCO, bulk, fabrication, oxygenation treatments, Jc/B curves, anisotropy, transport currents, experimental results, critical caracteristics
Haken B., Lehtonen J., Dhalle M., Oomen M., Leghissa M., Goldacker W., Joronen J., Zabara O., Arndt T.J., Masti M.(mika.masti@tut.fi), Schmidt C., Bruzek C.-E., Jorda J.-L., Zaragoza A., Opagiste C., ten Kate H.
Xu B., Su J.H., Schwartz J.(schwartz@magnet.fsu.edu)
Brojeny A.A., Clem J.R.(clem@ameslab.gov)
Weijers H.W., Schwartz J., Zhang G., Wang X.(xiaorong@caps.fsu.edu), Caruso A.R.(caruso@magnet.fsu.edu), Breschi M.(marco.breschi@unibo.it), Trociewitz U.P.
Dou S.X., Pan A.V., Roussel M.(roussel@uow.edu.au), Zeng R.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes multifilamentary, heat treatment, fabrication, optical imaging, microstructure, crack formation, grain structure, magnetization curves, temperature dependence, critical current, transport currents, experimental results, critical caracteristics, magnetic properties
Oota A., Nakamura Y., Kimura H., Inada R.(inada@eee.tut.ac.jp), Zhang P., Tateyama K.
Husek I., Dhalle M., Melisek T., Ouden A.D., Kovac P.(Pavol.Kovac@savba.sk)
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Gray K.E., Reeves J., Vlasko-Vlasov V.K., Claus H., Trasobares S., Lei Y., Hiller J.M., Venkataraman K.(venkataraman@wisc.edu)
Schwartz J., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Zhang G.M., Knoll D.C.(knoll@caps.fsu.edu)
Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Kakimoto K., Yamada Y., Nishioka T., Enomoto N., Zhenan J.
Schwartz J., Lin L.Z., Yu Y.J., Xiao L.Y., Zhang G.M., Sastry P.V.P.S.S.(pamidi@caps.fsu.edu)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, assembled conductors, ac losses, transport currents, angular dependence, experimental results
Ключевые слова: measurement technique, ac losses, transport currents, HTS, tapes, assembled conductors
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.